政府計畫(GRB),建議「依年度遞減排序」,以查看最新的研究方向。
畢業學年度 | 論文標題 | 連結 | 學位 | 畢業時長(years) |
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關鍵字 | ||||
112 | 以介面工程... 以介面工程開發高可靠度與低功耗的多位元儲存鐵電記憶體 (Developing High-Reliability and Low-Power Multi-Bit Storage Ferroelectric Memory by Interface Engineering) | NTHU | 博 | 無口試日期 |
鐵電記憶體(ferroelectric memory)、鐵電穿隧元件(FTJ)、鐵電電容(FeCaps)、介面工程(interface engineering)、多位元操作(multi-bit operation)、低功耗(low power) 鐵電記憶體... | ||||
112 | 在低溫後段... 在低溫後段製程下藉由氮化鈦金屬緩衝層與氧電漿預處理方式提升鐵電電容特性並緩解喚醒效應 (Enhancing Characteristics and Alleviating Wake-up Effect of Ferroelectric Capacitors through TiN Metal Buffer Layer and Oxygen Plasma Pretreatment in Low-Thermal Budget BEOL Process) | NTHU | 碩 | 無口試日期 |
鐵電記憶體(Ferroelectric memory)、鐵電電容(Ferroelectric capacitor)、介面工程(Interface engineering)、電漿處理(Plasma treatment)、類神經網路(Neural network)、低溫製程(Low Temperature process) 鐵電記憶體... | ||||
112 | 藉由氧化鋁... 藉由氧化鋁與氮化鋁介面層並透過微波退火技術實現N通道鍺鐵電電晶體 (Implementation of Ge N-channel Ferroelectric Field Effect Transistors with Al2O3/AlN Interlayer by Microwave Annealing) | NTHU | 碩 | 無口試日期 |
鍺基板(Germanium Substrate)、介面工程(Interface Engineering)、鐵電電晶體(FeFET)、微波退火(Microwave Annealing) 鍺基板(G... | ||||
112 | 以溫度梯度... 以溫度梯度方式沉積氧化鋯鉿改善鐵電電容之極化量與耐久度表現 (Improved Remanent Polarization and Enhanced Endurance of Ferroelectric Capacitors by Depositing HfZrOx Using Temperature Gradients) | NTHU | 碩 | 無口試日期 |
鐵電電容(Ferroelectric Capacitor)、耐久度(Endurance)、漏電流(Leakage current)、極化量(Polarization) 鐵電電容(... | ||||
112 | 藉由漸層式... 藉由漸層式堆疊氧化鋯鉿薄膜以改善鐵電電晶體元件效能及可靠度 (Improved Performance and Reliability of Ferroelectric Field Effect Transistors by Composition Gradient Stacked Hf1-XZrXO2 Films) | NTHU | 碩 | 無口試日期 |
鐵電(Ferroelectric)、鐵電電晶體(FeFET)、漸層式結構(Gradient structure)、氧化鋯鉿(HfZrOx)、可靠度(Reliability)、氧缺陷(Oxygen vacancy) 鐵電(Fe... | ||||
112 | 藉由原子層... 藉由原子層氣相沉積氮化鉭與回春現象提升鐵電電容的可靠度及介面品質 (Improved Reliability for Ferroelectric Capacitor and Interface Quality by Atomic Layer Deposited Tantalum Nitride and Rejuvenation Phenomenon) | NTHU NDLTD | 碩 | 2.14 |
鐵電電容(Ferroelectric Capacitor)、原子層氣相沉積(Reliability)、氮化鉭(Atomic Layer Deposited)、回春現象(Tantalum Nitride)、可靠度(Rejuvenation Phenomenon) 鐵電電容(... | ||||
111 | 以液態氮快... 以液態氮快速冷卻法改善 HfZrOx 鐵電電容之鐵電特性 (Improving Ferroelectric Characteristics for HfZrOx -based Ferroelectric Capacitor By Liquid Nitrogen (LN2) Quenching) | NTHU NDLTD | 碩(外籍生) | 2.00 |
鐵電電容(FeRAM)、氧化鉿新鐵電材料(HfxZr1-xO2)、鐵電記憶體(Ferroelectric Memory) 鐵電電容(... | ||||
111 | 以TiN與... 以TiN與雙層HfZrOx堆疊結構實現鐵電電容之低操作電壓與多位元儲存能力 (Achievement Of Low TLC Operation Voltage For Ferroelectric Capacitor By Laminate HfZrOx-TiN-HfZrOx Structure) | NTHU NDLTD | 碩 | 2.00 |
鐵電記憶體(FeRAM)、低耗能元件(low power operation)、多位元儲存(TLC operation) 鐵電記憶體... | ||||
111 | 使用鐵電H... 使用鐵電HZO加強的電荷捕捉機制實現低操作電壓及高耐久度的N通道鍺鐵電電晶體 (Ferroelectric HZO Boosted Charge Trap Memory with Low-Voltage Operation and Robust Endurance for Ge N-Channel Ferroelectric FET) | NTHU NDLTD | 碩 | 2.00 |
電荷捕捉(Charge trapping)、氧化鉿鋯(HZO)、鐵電電晶體(FEFET)、鍺基板(Germanium substrate) 電荷捕捉(... | ||||
111 | 以0.15... 以0.15-μm砷化鎵製程實現之84-GHz具有良好諧波抑制之自混頻三倍頻器設計 (A 84-GHz Self-Mixing Frequency Tripler With Excellent Harmonic Rejection in 0.15-μm GaAs pHEMT Process) | NTHU NDLTD | 碩 | 3.99 |
毫米波(mmW)、W波段(W-band)、倍頻器(Frequency multiplier)、濾波器(Filter)、基板整合波導(Substrate-integrated waveguide)、砷化鎵(GaAs) 毫米波(m... | ||||
111 | 擁有寬頻介... 擁有寬頻介電共振器天線和4×4天線陣列之兆赫波影像器 (THz Imager with Wideband Dielectric Resonator Antenna and 4×4 Antenna Array) | NTHU NDLTD | 碩 | 3.99 |
兆赫波(THz)、兆赫波影像器(THz imager)、介電共振器天線(Dielectric resonator antenna)、天線陣列(Antenna array)、即時成像(Real-time imaging) 兆赫波(T... | ||||
111 | 應用於互補... 應用於互補式金屬氧化物半導體元件源/汲極接觸技術之研究 (Study of Source/Drain Contact Technology for CMOS Device Applications) | NTHU NDLTD | 碩逕博 | 7.77 |
費米能階釘札效應(Fermi-level Pinning Effect)、接觸電阻率(Contact Resistivity)、穿隧式電晶體(Tunnel Field-effect Transistor)、雙極性效應(Ambipolar Effect)、次臨界擺幅(Subthreshold Swing) 費米能階釘... | ||||
111 | 以介面工程... 以介面工程改善鐵電氧化鉿鋯記憶體之可靠度表現 (Improved Reliability of Ferroelectric HfZrOx-based Memory With Interface Engineering) | NTHU NDLTD | 博 | 3.76 |
鐵電性(Ferroelectricity)、氧化鉿鋯(HfZrO)、鐵電電容(FeCap)、鐵電電晶體(FeFET)、P型通道(P-Channel)、極化電流峰分裂(Switching Current Split-Up)、一階反轉曲線(FORC)、可靠度(Reliability)、多位元儲存(Multi-Level Cell)、微波退火(Microwave Annealing) 鐵電性(F... | ||||
110 | 鍺基板鐵電... 鍺基板鐵電電晶體採用微波退火後快速熱退火製程以實現三位元儲存能力和堅固耐用性 (Ge FeFET Memory with Triple-Level Cell Storage Capability and Robust Endurance Using Microwave Annealing Followed by Rapid Thermal Annealing) | NTHU NDLTD | 碩 | 1.97 |
鍺基板(Germanium Substrate)、鐵電電晶體(FeFET)、介面工程(Interface engineering)、電荷捕捉效應(Charge trapping effect)、三位元(Triple-level Cell)、微波退火(Microwave annealing) 鍺基板(G... | ||||
110 | 探討氧化鉿... 探討氧化鉿鋯鐵電電容在不同退火溫度下部分切換操作之動態演進 (Investigation of dynamic evolution in ferroelectric HfZrOx capacitor under partial switching operation at different annealing temperature) | NTHU NDLTD | 碩 | 1.97 |
鐵電記憶體(ferroelectric memory)、氧化鉿鋯鐵電電容(HfZrOx)、部分切換操作(partial switching operation)、極化電流峰分裂效應(split-up effect)、種子層(seed layer) 鐵電記憶體... | ||||
110 | 藉由沉積後... 藉由沉積後退火製程與介面工程開發高可靠度之鐵電電容及應用於多位元儲存操作 (Improved Reliability for BEOL Compatible Ferroelectric Capacitor with 3 bits/cell Storage Capability by Interface Engineering and Post Deposition Annealing) | NTHU NDLTD | 碩 | 1.97 |
鐵電電容(FeRAM)、沉積後退火(post deposition annealing)、介面工程(interface engineering)、可靠度(reliability)、喚醒效應(wake-up effect)、多位元儲存操作(triple-level cell) 鐵電電容(... | ||||
110 | 以積層結構... 以積層結構改善極化值和喚醒效應之氧化鉿鋯鐵電電容 (Improving Polarization and Wake-up Effect for HfZrOx -based Ferroelectric Capacitor by Lamination) | NTHU NDLTD | 碩 | 1.97 |
積層結構(Lamination)、鐵電電容(Ferroelectric Capacitor)、改善極化值(Improving Polarization)、改善喚醒效應(Improving Wake-up Effect)、四層儲存單元(Quad-level cell)、氧化鉿鋯(HfZrOx) 積層結構(... | ||||
109 | 應用於成像... 應用於成像系統之W頻帶外差式鏡像抑制發射機及340-GHz內建相移器之放大器倍頻器模組之設計 (W-band Heterodyne Image Rejection Transmitter and 340-GHz Phase-Shifter-Embedded Amplifier-Multiplier Chain Designs for Imaging Applications) | NTHU NDLTD | 碩 | 3.12 |
毫米波(mmW)、太赫茲(THz)、發射機(Transmitter)、成像系統(Imaging system)、CMOS(Power amplifier)、功率放大器(Mixer)、混頻器(Quadrature hybrid)、正交訊號產生器(Phase shifter)、相移器(Transformer)、變壓器(undefined) 毫米波(m... | ||||
109 | 改變能障高... 改變能障高度提升穿隧電阻效應之鐵電穿隧元件 (Enhanced Tunneling Electro-resistance Ratio for HfZrOx-based Ferroelectric Tunnel Junction by Barrier Height Modulation) | NTHU NDLTD | 碩 | 1.98 |
鐵電性(ferroelectricity)、鐵電穿隧接面(ferroelectric tunnel junction)、穿隧電阻比(TER ratio)、熱離子注入(thermionic injection) 鐵電性(f... | ||||
109 | 以氮氧化鋁... 以氮氧化鋁介面層之P型鐵電電晶體提升可靠度及應用於類神經網路 (P-type FeFET Utilizing AlON Interfacial Layer with Better Reliability and Its Applications to Neural Network) | NTHU NDLTD | 碩 | 1.98 |
鐵電電晶體(FeFET)、氧化鋯鉿(HfZrO2)、深度學習網路(DNN)、非揮發性記憶體(NVM)、脈衝依賴時序可塑性(STDP) 鐵電電晶體... | ||||
109 | 利用氮化鋁... 利用氮化鋁鈦作為鎢金屬閘極之阻擋層以改善先進製程之MOS電容 (Improved Tungsten Metal Gate Characteristics by TiAlN as Barrier Layer for Advanced VLSI Process) | NTHU NDLTD | 碩 | 1.98 |
金屬閘極工程(Metal gate stack)、金氧半電容(MOSCAP)、鎢金屬氣相化學沉積(WCVD)、氟擴散(Fluorine diffusion)、阻擋層(Barrier layer)、氮化鋁鈦(Titanium aluminium nitride) 金屬閘極工... | ||||
109 | 利用沉積後... 利用沉積後退火製作高可靠度氧化鉿鋯鐵電薄膜及其於突觸可塑性之應用 (Highly Reliable Ferroelectric HfZrOx Thin Film Formed by Post Deposition Annealing and Its Applications to Synapse Plasticity) | NTHU NDLTD | 碩(提早入學) | 1.47 |
可靠度(Reliability)、鐵電材料(Ferroelectric material)、沉積後退火(Post deposition annealing)、氧空缺控制(Oxygen vacancy control)、氧化鉿鋯(HfZrOx)、氮氧化鋁(AlON) 可靠度(R... | ||||
109 | 噴墨印刷三... 噴墨印刷三維高頻元件之技術開發 (Development of three dimensional high-frequency devices using inkjet printing technology) | NTHU NDLTD | 博 | 7.65 |
印刷(printed)、可撓式(flexible)、液晶高分子聚合物(liquid crystal polymer)、噴墨(LCP)、軟性電子(Inkjet) 印刷(pr... | ||||
109 | 多晶鍺錫化... 多晶鍺錫化合物無接面薄膜式電晶體之缺陷工程及其在神經型態運算之應用 (Defect Engineering of Poly-GeSn Junctionless Thin Film Transistors and Its Applications for Neuromorphic Computing) | NTHU NDLTD | 博 | 5.15 |
多晶鍺錫化合物(Poly-GeSn)、氬氣退火(Ar annealing)、氨氣電漿(NH3 plasma)、鐵電(Ferroelectric)、氧化鉭(Ta2O5)、神經型態運算(Neuromorphic Computing) 多晶鍺錫化... | ||||
109 | 用氮氧化鋁... 用氮氧化鋁作為介面層提升鐵電記憶體之記憶視窗及耐用度 (FeFET Memory Featuring Large Memory Window and Robust Endurance of Long-Pulse Cycling by Interface Engineering Using High-k AlON) | NTHU NDLTD | 碩 | 2.06 |
鐵電記憶體(Ferroelectric)、氮氧化鋁(AlON)、電晶體(FeFET)、記憶視窗(Memory window)、可靠度(Reliability) 鐵電記憶體... | ||||
109 | 利用鈷取代... 利用鈷取代鎢作為替代金屬閘極材料以改善FinFET製程之MOS電容 (Replacing Tungsten by Cobalt as Metal Gate Material for Advanced FinFET Process) | NTHU NDLTD | 碩 | 2.05 |
閘極工程(Metal gate stack)、金氧半電容(MOSCAP)、鎢(Tungsten)、鈷(Cobalt) 閘極工程(... | ||||
109 | 透過在磊晶... 透過在磊晶錫化鍺薄膜上形成高可靠度鐵電電容實現辨識神經網路之時空特徵 (Recognizing Spatiotemporal Features by Neuromorphic Network with Highly Reliable Ferroelectric Capacitors on Epitaxial GeSn Film) | NTHU NDLTD | 碩 | 2.05 |
錫化鍺(GeSn)、鐵電(Ferroelectric)、類神經網路(Neuromorphic Network)、脈衝神經網路(Spatiotemporal)、可靠度(Spiking neural network) 錫化鍺(G... | ||||
108 | 應用於新穎... 應用於新穎式非揮發性記憶體元件之鐵電二氧化鉿材料可靠度研究 (Reliability Study of HfO2-based Ferroelectric for Non-volatile Emerging Memory Applications) | NTHU NDLTD | 碩逕博 | 5.08 |
可靠度(reliability)、鐵電材料(ferroelectric material)、非揮發性記憶體(non-volatile memory)、二氧化鉿(hafnium oxide)、鐵電記憶體(ferroelectric memory) 可靠度(r... | ||||
107 | 摻雜硼之矽... 摻雜硼之矽鍺受應變影響以及磊晶後退火應用於鈦接觸電阻之電學特性研究 (Electrical Properties of Ti / p-SiGe Contacts for Advanced PMOS Devices: Impact of Strain in SiGe:B and Post Epi Thermal Treatments) | NTHU NDLTD | 碩 | 3.00 |
磊晶(Epitaxy)、接觸電阻(Contact resistivity) 磊晶(Ep... | ||||
107 | 以氧化鋯鉿... 以氧化鋯鉿鐵電元件實現高可靠度之可切換式二極體應用於記憶體內運算 (HfZrOx-Based Switchable Diode with Good Reliability for In-Memory Computing Applications) | NTHU NDLTD | 碩 | 2.00 |
鐵電性(ferroelectricity)、氧化鋯鉿(HfZrOx)、可切換式二極體(switchable diode)、記憶體內運算(in-memory computing)、電阻式切換(resistive switching)、憶阻器(memristor)、時序邏輯(sequential logic cycle)、布林函數(Boolean function)、蕭特基發射(Schottky emission)、馮諾伊曼瓶頸(von Neumann bottleneck) 鐵電性(f... | ||||
107 | 游離輻射效... 游離輻射效應對氧化鉿鋯鐵電記憶體特性之影響 (Effects of Ionizing Radiation on Memory Characteristics for HfZrOx-Based FeFETs) | NTHU NDLTD | 碩 | 2.00 |
游離輻射(Ionizing Radiation)、氧化鉿鋯(HfZrOx)、鐵電電晶體(FeFETs)、非揮發性記憶體(non-volatile memory) 游離輻射(... | ||||
106 | 藉由汲極端... 藉由汲極端金屬調變能障以改善穿隧電晶體次臨限擺幅與雙極效應 (Design and Simulation of Improved Swing and Ambipolar Effect for Tunnel FET by Band Engineering Using Metal at Drain Side) | NTHU NDLTD | 碩 | 1.98 |
穿隧式場效電晶體(TFET)、雙極性效應(Ambipolar effect)、半導體輔助模擬程式(TCAD)、金屬功函數(Metal work function) 穿隧式場效... | ||||
105 | 藉由形成鍺... 藉由形成鍺化鈦在N型鍺上實現低接觸電阻之鍺技術研究 (Enabling Low Contact Resistivity on n-Ge by Forming Ti Germanide for Ge Technology) | NTHU NDLTD | 碩 | 1.99 |
鍺化鈦(Titanium germanide)、N型鍺(n type germanium)、接觸電阻(contact resistivity)、蕭特基能障高度(Schottky barrier height)、鍺技術(Fermi level pinning)、費米能階釘札(undefined) 鍺化鈦(T... | ||||
105 | 以斜方晶氧... 以斜方晶氧化鋯鉿實現可整合於後段製程之高效能金屬-絕緣層-金屬去耦合電容 (Back-End Integrable On-Chip MIM Decoupling Capacitors Featuring High Capacitance with Low Leakage Current by Orthorhombic HfZrOx) | NTHU NDLTD | 碩(提早入學) | 1.49 |
金屬-絕緣體-金屬電容(MIM capacitor)、去耦合(Decoupling)、二氧化鋯鉿(HfZrOx)、斜方晶相(Orthorhombic) 金屬-絕緣... | ||||
105 | 以氨氣電漿... 以氨氣電漿處理提升氧化鋯鉿鐵電元件之可靠度 (Enhanced Device Reliability for HfZrOx-based Ferroelectric MFM Capacitor by NH3 Plasma Treatment) | NTHU NDLTD | 碩(提早入學) | 1.97 |
鐵電材料(ferroelectric material) 鐵電材料(... | ||||
104 | 以摻雜氮之... 以摻雜氮之鈦酸鋯氧化物及鋯鉿氧化物作為電荷儲存層實現低電壓操作快閃記憶體 (Low-Voltage Operation of Flash Memory by Adopting Nitrogen-Incorporated ZrTiO4 and HfZrO as Charge Trapping Layer) | NTHU NDLTD | 碩(提早入學) | 無口試日期 |
非揮發性記憶體(Nonvolatile memory)、電荷儲存層(Charge trapping layer)、N2O氮化(N2O nitridation)、高介電常數介電層(High-k dielectric)、Orthorhombic ZrTiO4(Orthorhombic ZrTiO4)、HfZrO(HfZrO) 非揮發性記... | ||||
104 | 利用固相磊... 利用固相磊晶的方式形成磊晶的N型錫化鍺並進行費米能階去釘札研究 (Investigation of Fermi Level Depinning on Epitaxial N-type GeSn Film Formed by Solid Phase Epitaxy) | NTHU NDLTD | 碩(提早入學) | 無口試日期 |
費米能階去釘札(Fermi level depinning) 費米能階去... | ||||
104 | 利用鍺進行... 利用鍺進行預非晶化佈植改善鰭式電晶體之接觸電阻與漏電流 (Improvement of Contact Resistance and Leakage Current for FinFETs by Adopting Ge Pre-Amorphization Implantation) | NTHU NDLTD | 碩 | 無口試日期 |
鰭式電晶體(FinFET)、接觸電阻(Contact Resistance)、預非晶化離子佈植(Pre-Amorphization Implant) 鰭式電晶體... | ||||
103 | 以堆疊兩層... 以堆疊兩層不同高介電物質作閘極氧化層來提升鰭式電晶體之效能 (Enhanced Device Performance for FINFET by Stacking Two Different High-k Materials as Gate Oxide Layer) | NTHU NDLTD | 碩 | 無口試日期 |
高介電材料(Reliability)、可靠度(High-k material) 高介電材料... | ||||
103 | 二氧化鉿摻... 二氧化鉿摻雜鋁在金屬-氧化物-半導體結構中之鐵電性探討 (Aluminum Doped Hafnium Dioxide as Ferroelectric Material in MOS Structure) | NTHU NDLTD | 碩 | 無口試日期 |
鐵電性(Ferroelectric)、極化(Polarization)、二氧化鉿(Hafnium dioxide)、鋁摻雜(Aluminum doped)、記憶體(MFIS)、金屬-氧化物-半導體結構(MFS)、金屬-鐵電層-半導體結構(Memory) 鐵電性(F... | ||||
103 | 利用固相磊... 利用固相磊晶的方式形成磊晶的錫化鍺並經由氧氣電漿處理應用於高電子遷移率N型電晶體 (High Mobility N-MOSFETs on GeSn Film Formed By Solid Phase Epitaxy with Surface Passivation by Oxygen Plasma Treatment) | NTHU NDLTD | 碩 | 無口試日期 |
錫化鍺N型電晶體(N-MOSFETs on GeSn Film) 錫化鍺N型... | ||||
102 | 以ZrTi... 以ZrTiOx為介電層並利用相消效應實現高效能MIM電容 (not found) | NTHU NDLTD | 碩 | 無口試日期 |
ZrTiOx介電層、MIM電容、BaZryTi1-yO3介電層 ZrTiO... | ||||
102 | 以稀土族氧... 以稀土族氧化物作為矽電晶體及鍺電容元件之閘極介電層研究 (Study of Rare-Earth Oxide as the Gate Dielectric for Si MOSFETs and Ge MOS Capacitors) | NTHU NDLTD | 碩 | 無口試日期 |
稀土族氧化元素、電晶體、電容器、鍺、高介電常數材料 稀土族氧化... | ||||
102 | 以pn二極... 以pn二極體做為快閃記憶體之電荷儲存層的電性討論 (Electrical Characteristics for Flash Memory with pn-Junction Diode as the Charge-Trapping Layer) | NTHU NDLTD | 碩 | 無口試日期 |
快閃記憶體、二極體 快閃記憶體... | ||||
102 | 以二氧化鋯... 以二氧化鋯作為閘極介電層實現氧化錫薄膜電晶體之研究 (Study of SnO-Based N-Type Thin Film Transistor Using ZrO2 as the Gate Dielectric) | NTHU NDLTD | 碩 | 無口試日期 |
薄膜電晶體、氧化錫 薄膜電晶體... | ||||
102 | 利用鍺奈米... 利用鍺奈米晶體實現具低漏電流之二氧化鈦MIM電容 (Improved Leakage Current for TiO2-Based MIM Capacitors by Embedding Ge Nanocrystals) | NTHU NDLTD | 碩 | 無口試日期 |
二氧化鈦(crystalline TiO2)、MIM電容(MIM capacitors)、氮氣電漿處理(nitrogen plasma)、鍺奈米晶體(Ge nanocrystals)、庫倫阻斷效應(Coulomb blockade) 二氧化鈦(... | ||||
102 | 鍺基板上利... 鍺基板上利用固相磊晶的方式形成磊晶的錫化鍺並應用在低於1奈米等效氧化層厚度的金氧半元件 (Epitaxial GeSn Formed on Ge Substrate by Solid Phase Epitaxy and Its Application to MOS Devices with Sub-nm EOT) | NTHU NDLTD | 碩 | 無口試日期 |
磊晶錫化鍺(epitaxial GeSn)、鍺基板(Ge substrate)、表面平坦度(surface roughness)、等效氧化層厚度(EOT)、漏電流(leakage current) 磊晶錫化鍺... | ||||
101 | 以蕭基二極... 以蕭基二極體實現高密度電阻式記憶體陣列之選擇器 (Schottky Diode Based Selector for High-Density Resistive Random Access Memory) | NTHU NDLTD | 碩 | 無口試日期 |
電阻式記憶體(RRAM)、陣列(cross-bar) 電阻式記憶... |