鋰離子電池(A multi-run step-stress experiment)、TRP 模型(end of performance)、電池壽命預測(lithium-ion batteries)、多次運行之加速衰變試驗(trend renewal process)、試驗終止時間(trend renewal data)

可回充鋰離子電池(Rechargable lithium-ion batteries)、電池壽命預測(end of performance)、數據驅動模型(data-driven model)、電化學固體電解質介面模型(solid-electrolyte interphase model)、實驗終止時間(termination time)

半導體產業(Semiconductor Industry)、資源分配(Resource Allocation)、產能規劃(Capacity Planning)、多目標粒子群演算法(Multi-objectives Particle Swarm Optimization)、探針卡(Probe Card)、晶圓測試(Wafer Probing Test)

隨機衝擊過程(Random Shock Model)、可靠度分析(Compound Poisson process)、保固期(MOSFET component)、MOSFET元件(Reliability Analysis)、FMEA(FMEA)、AFD(AFD)

鋰離子電池(Lithium-ion battery)、電池壽命預測(battery life prediction)、試驗終止時間(test termination time)、循環式逐步應力加速衰變試驗(cyclic step-stress accelerated degradation test)、循環式 SS_ATRP 模型(cyclic SS_ATRP model)

故障根因診斷(Root cause diagnosis)、節點連接稀疏主成分分析(Edge-group sparse principle components analysis)、傳遞熵(Transfer entropy)、軟儀表(Soft sensor)、程序控制(Process control)

鋰離子電池(lithium-ion batteries)、電池壽命預測(end of performance (EOP))、加速衰變試驗(accelerated degradation test)、趨勢更新過程(trend renewal process (TRP))、SS_ATRP模型(SS_ATRP model)

可回充式鋰電池(Rechargeable lithium-ion)、電池壽命(end of performance of battery)、加速衰變試驗(trend renewal process model)、反應曲面方法(reduced TRP model)、TRP模型(undefined)

指數擴散衰變模型(Accelerated degradation tests)、加速衰變實驗(Exponential dispersion degradation model)、不規則實驗區間(General equivalence theorem)、最適設計(Irregular design region)、雙加速變數(Optimal design)、General equivalence theorem(Two accelerating variables)

可回充鋰電池(rechargeable battery)、電池壽命預測(end of performance (EOP))、TSS_ADT模型(TSS_ADT model)、TSS_ATRP模型(TSS_ATRP model)

保固期內退貨率之預測(Predict field return rate within warranty period)、SVD分解(SVD method)、實驗樣本數之決定(decide the number of sample size)

奈米溶膠(nano-sol)、保存期限估計(shelf-life prediction)、混合Log-F分布(mixture Log-F distribution)、pH值加速衰變模型(pH accelerated degradation model)、期望條件最大演算法(expectation/conditional maximization (ECM) algorithm)、模型誤判分析(mis-specification)

可靠度(Reliability)、保固期(Warranty)、羅吉斯模型(Logistic Model)、退貨率預測(Return Rate Prediction)、層狀結構(Hierarchical Sturcture)

批次控制(run-to-run control)、動態系統(dynamic system)、Quasi MMSE控制器(Quasi MMSE controller)、製程干擾(process disturbance)、轉換函數模型(Transfer function model)、回饋控制(feedback control)

保固期(Warranty)、可靠度(Reliability)、層狀結構(Hierarchical Sturcture)、退貨率預測(Return Rate Prediction)

伽瑪加速衰變模型(gamma accelerated degradation model)、逆高斯加速衰變模型(inverse Gaussian accelerated degradation model)、誤判機率值(misspecification probability)、誤判效應(misspecification effect)、相對偏誤(relative bias)、相對變異(relative variability)、期望均方差(expected mean square error)

指數分散衰變模型(Exponential dispersion degradation model)、加速衰變試驗(Accelerated degradation tests)、加速壽命試驗(Accelerated life tests)、疲勞實驗(Fatigue tests)、最佳驗配置(Optimal design)、依序設計(Sequential design)、貝氏分析(Bayesian test planning)

隨機效應(TRP)

批次控制(run-to-run control)、動態系統(dynamic system)、Quasi MMSE控制器(Quasi MMSE controller)、製程干擾(process disturbance)、轉換函數模型(Transfer function model)、回饋控制(feedback control)

鋰電池(trend renewal process)、壽命推估(undefined)、最適實驗配置問題(undefined)

預燒程序(burn-in policy)、衰變路徑(degradation path)、Wiener過程(Wiener process)、window size(window size)

批次控制(run-to-run control)、靜態系統(EWMA controller)、EWMA控制器(dynamic model)、動態系統(quasi MMSE controller)、quasi MMSE控制器(undefined)

錯誤偵測與分類(Fault detection and classification (FDC))、函數主成份分析(functional principle components analysis (FPCA))、健康指標(health index (HI))

可靠度分析(Generalized Gamma Distribution)、模型誤判分析(Lognormal)

衰變模型(Degradation Model)、逆高斯衰變模型(Inverse Gaussian Degradation Model)、局部最佳挑選法則(Locally Optimal Selection Rule)

時間序列、干預模式、SPC、多變量

批次控制

保固(Warranty)、可靠度(Reliability)、層狀結構(Hierarchical Sturcture)